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测厚探头
15020781632
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产品详情
双晶纵波探头,配套超声波测厚仪,用于材料厚度值的测量。铝合金外壳、不锈钢内套、有机玻璃延迟块,连接到探头线的两个接口为 C5插座。
频率
(MHz)
型号
接触面直径
(mm)
测量范围
(mm)
配套测厚仪
插座
5
5P10FG-J
14
0.75~500
CTS-400型
双C5插座
5P10FG
1~300
15P10T
13.4
1.2~200
CTS-300型
直接连到测厚仪
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