- 产品名称: 分体涂层测厚仪 宇问EC-770XE5.0
- 产品型号:
产品特色
率先采用双核处理架构,32位ARM处理器,显著提升运算效率;
采用128*128高分辨率点阵液晶;
可达10000微米超宽测量范围;
最高可达1%超高精度;
大点阵液晶屏,标准化菜单操作;
超限红色背光报警;
屏幕旋转倒置功能;
两种测量模式:单次(Single)和连续(Continuous);
两种组模式:直接组(DIR)和通用组(GEN),一个直接组和四个通用组,每组可存储500个数据;一共2000个数据。
可零校准,拥有全自动校准算法,省去人工反复校准;
用户可随时查看当前工作组已测得的数据,并删除指定数据或整组数据;
实时显示当前工作组统计值:平均值(Mean),最小值(Min),最大值(Max),标准方差(Sdev);
三种探头模式: 自动(Auto)、磁感应(Magnetic)和涡流(Eddy Current);
可为各组设置高低限报警值,超限时屏幕指示报警;
可开启或关闭自动关机功能;
USB接口可传输通用组数据到计算机;
低电和错误提示;
适合恶劣条件使用;
应用场景
本仪器能无损伤、快速、精密地进行涂、镀层厚度的测量。它能广泛应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域,是材料表面处理工程必备的仪器。它可以稳定地工作于实验室、车间现场和户外。
产品描述
EC-770X大量程涂层测厚仪分体型,能同时测量磁性基材表面(如钢、铁等)的非磁性涂镀层(如油漆、陶瓷、铬等),以及非磁性金属基材表面的非导电涂镀层(如油漆等)。本仪表内置高精密双探头,利用电磁感应和涡流效应,全自动探测基材属性,计算涂镀层厚度,并通过点阵液晶快速显示结果。同时,测量数据可分组保存,并实时显示统计值。用户可分别为每组设置上下限报警值、零校准。全新的零校准,让您非常方便的随时进行校准。标准化菜单,确保您非常容易的使用它。
技术指标
测量原理:磁感应(F探头);涡流效应(N探头);
测量范围:F:0~5000um;N:3000um
测量精度(典型值):± (读数的2%+1um);
分辨率:0um~99um(0.1um), 100um~999um (1um), 1000um~5000um (0.01mm);
校准:零点校准;
数据存储与分组:一个直接组(数据不保存)和四个通用组(数据可被保存),每组有单独的统计,报警上下限设置和校准设置;
统计值:支持平均值、最小值、最大值和标准方差;
支持单位:um, mm, mils;
报警:用户可设置上下报警限,当发生报警时,液晶屏幕可显示提示;
最小曲率半径:凸5mm,凹25mm;
最小测量面积:直径20mm;
最小基材厚度:0.2mm(F探头);0.05mm(N探头);
电脑接口:可通过USB口连接计算机下载数据;
电源:两节1.5V AAA电池;
操作温度:0~40℃;
保存温度:--20℃ to 70℃;
尺寸:110mm*53mm*24mm;